ОбщийАбитуриентамСтудентамВыпускникамДополнительное образованиеАспирантура и докторантураБиблиотекаСМИ Карта сайтаПоискПочта
Навигация
Анонсы
нет анонсов

Все анонсы »

СМИ о нас
11 октября 2022

Проект «Александрова дорога»: 1 СЕРИЯ. ПЕРЕСЛАВЛЬ-ЗАЛЕССКИЙ. НАЧАЛО ПУТИ

03 октября 2022

Телеканал 78: «Реальная политика»

Архив »

РГПУ им. А.И. ГерценаОбщийНаукаНаучные подразделения РГПУ им. А. И. ГерценаМРЦКП «Современные физико-химические методы формирования и исследования материалов для нужд промышленности, науки и образования»Центр коллективного пользования атомно-силовой микроскопии и вакуумного напыления

Центр коллективного пользования атомно-силовой микроскопии и вакуумного напыления (ЦКП-3)

 

Специализация: изучение структуры, локальных свойств и элементного состава твердых тел, методами сканирующей зондовой и электронной микроскопии..

Основные направления деятельности:

  • исследование процессов роста и механизмов формирования тонких пленок в процессе получения методами вакуумного напыления;
  • создание низкоразмерных структур и наноструктур методами электронной литографии;
  • проведение курсов повышения квалификации по теме «Нанотехнологии» для учителей Санкт-Петербурга и учащихся старших классов Санкт-Петербурга и Ленинградской области.

Руководитель: кандидат физ.-мат. наук Пронин Владимир Петрович

Адрес: 191186, С.-Петербург, наб. р. Мойки, 48, корп. 3., ауд. 362-363
Часы работы: пн-пт с 10.00 до 18.00
 

 

Оборудование:

Растровый электронный микроскоп EVO-40 

Производитель: Carl Zeiss, Германия.

Предназначен для комплексных исследований морфологии, элементного состава и кристаллической структуры, проводящих и низкопроводящих мишеней с разрешением от 2 нм. Оснащен дифрактометрическим модулем EBSD-120404-SPB-1 (Carl Zeiss) и системой плазменной очистки 25 Zephyr (Oxford Instruments)

Напылитель для электронного микроскопа SC 7620 

Производитель: Quorum Technologies, Германия.

Предназначен для нанесения тонких проводящих покрытий для исследования методами электронной микроскопии

Сканирующий зондовый микроскоп Solver P-47 Pro 

Производитель: NT-MDT, Россия.

Предназначен для исследования морфологии и других свойств поверхности твердых тел методами атомно-силовой микроскопии.

Свидетельство об утверждении типа средств измерений

 

Последнее изменение: 31 октября 2022 г. в 10:07:10
Автор: Суслов Антон Владимирович
Основные сведения | Структура | Управление | Наука | Образование | Деятельность | Инновации | СМИ | Как нас найти | Работа в университете

Сведения об образовательной организации

Cведения о доходах, об имуществе и обязательствах имущественного характера руководителя и членов его семьи (информация размещена в соответствии с Приказом Минтруда России от 30.01.2015 № 51н)

Сведения о среднемесячной заработной плате руководителя, его заместителей и главного бухгалтера (информация размещена в соответствии с Постановлением Правительства от 28.12.2016 № 1521)

Противодействие коррупции

 

 

ВЕРСИЯ ДЛЯ СЛАБОВИДЯЩИХВЕРСИЯ ДЛЯ СЛАБОВИДЯЩИХ

 

РУМЦ по обучению инвалидов и лиц с ОВЗРУМЦ по обучению инвалидов и лиц с ОВЗ

 

 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
Это интересно

   

Онлайн курсы Герценовского университета
Образовательный центр Сириус
 
Новости

Архив »

Политика конфиденциальности
Российский государственный педагогический университет им. А.И. Герцена © 2024
Связь с администраторомСвязь с администратором